_ae 硬件测试

2024-08-30 02:11:49

1.webrtc aecm和aec的区别

2.绘图显卡和游戏显卡区别？

3.主板诊断卡代码！

4.一般主板检测卡代码的含义？

5.自媒体剪辑需要什么电脑配置？后期对电脑硬件要求解析

_ae 硬件测试

PI2D主板检测代号说明-主板检测卡代码no

主板检测卡说明书( 代号如下 )

00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。

01 处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器***有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过***开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电***已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。

04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5，可***8042控制状态。已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如***正在进行或者失灵。

06 使电路片作初始***，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。

08 使CMOS计时器作初始***，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。

0A 使接口作初始***。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始***。（文章来源：://hi.baidu/dnwxld/creat/blog/）

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始***，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始***。第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始***，即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始***。第一个64DK RAM第2位故障。

13 测试8741键盘控制器接口。显示器已停用，端口B已作初始***；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。

14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。

15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。

16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。

17 调准输入／输出工作，若装有BIOS则启用。第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第7位故障。

18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过，由可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。第一个64DK RAM第8位故障。

19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。第一个64DK RAM第9位故障。

1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。第一个64DK RAM第10位故障。

1B 测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DK RAM第11位故障。

1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。

1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。

1E 测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。

1F 测试64K存储器至***640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。

20 测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22 测试8259的中断功能。结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

23 测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。

24 测定1MB以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始***。设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。

25 测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始***；将为***式断续开始读出8042的输入／输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。

26 测试保护方式的例外情况。读出8042的输入／输出端口；即将为***式断续开始使全局数据作初始***。开启A20地址线；使之参入寻址。

27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。全1数据初始***结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始***。键盘控制器测试正在进行或失灵。

28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。完成中断矢量之后的初始***；即将调定单色方式。 CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。

29 . 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A 使键盘控制器作初始***。已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。

2B 使磁碟驱动器和控制器作初始***。触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或失灵。

2C 检查串行端口，并使之作初始***。完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。屏幕初始***正在进行或失灵。

2D 检测并行端口，并使之作初始***。已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始***。从ROM控制之后的处理复原；如果没有发现EGA／VGA就要进行显示器存储器读／写测试。检测ROM正在进行。

2F 检测数学协处理器，并使之作初始***。没发现EGA／VGA；即将开始显示器存储器读／写测试。

30 建立基本内存和扩展内存。通过显示器存储器读／写测试；即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。

31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始***。显示器存储器读／写测试或扫描检查失败，即将进行另一种显示器存储器读／写测试。单色监视器是可以工作的。

32 对主板上COM／LTP／FDD／声音设备等I／O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读／写测试；却将进行另一种显示器扫描检查。彩色监视器（40列）是可以工作的。

33 . 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际***卡检验显示器的关型。彩色监视器（80列）是可以工作的。

34 . 已检验显示器适配器；接着将调定显示方式。计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。

35 . 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。停机测试正在进行或失灵。

36 . 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。门电路中A－20失灵。

37 . 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。保护方式中的意外中断。

38 . 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障＞FFFFH。

39 . 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。

3A . 引用信息串显示结束；即将显示发现信息。间隔计时器通道2测试或失灵。

3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始***。已显示发现＜ESC＞信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

3C 建立允许***CMOS设置的标志。 . 串行端口测试正在进行或失灵。

3D 初始化键盘／PS2鼠标／PNP设备及总内存节点。 . 并行端口测试正在进行或失灵。

3E 尝试打开L2高速缓存。数学协处理器测试正在进行或失灵。

40 . 已开始***虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。 ***CPU速度，使之与时钟精确匹配。

41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良）从存储器检验之后复原；即将***描述符表。系统***件板选择失灵。

42 显示窗口***SETUP。描述符表已***好；即将进行虚拟方式作存储器测试。扩展CMOS RAM故障。

43 若是即***即用BIOS，则串口、并口初始化。 ***虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。 .

44 . 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始***以检查存储器在0：0返转。） BIOS中断进行初始化。

45 初始化数学协处理器。数据已作初始***；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。

.46 . 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。检查只读存储器ROM版本。

47 . 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。.

48 . 已将基本存储器写入页面；即将确定1MB以上的存储器。检查，CMOS重新配置。

49 . 找出1BM以下的存储器并检验；即将确定1MB以上的存储器。.

4A . 找出1MB以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM数据区。进行的初始化。

4B . BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查＜ESC＞和为软复位清除1MB以上的存储器。 .

4C . 清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器. 屏蔽BIOS ROM。.

4D 已清除1MB以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。 .

4E 若检测到有错误；在显示器上显示错误信息，并等待客户按＜F1＞键继续。开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。显示版权信息。

4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。 .

50 将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。完成1MB以下的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。将CPU类型和速度送到屏幕。

51 . 测试1MB以上的存储器。 .

52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。已完成1MB以上的存储器测试；即将***回到实址方式。 ***键盘检测。

53 如果不是即***即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时种值。保存CPU寄存器和存储器的大小，将***实址方式。 .

54 . 成功地开启实址方式；即将复原***停机时保存的寄存器。扫描"打击键"

55 . 寄存器已复原，将停用门电路A－20的地址线。 .

56 . 成功地停用A－20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。键盘测试结束。

57 . BIOS ROM数据区检查了一半；继续进行。.

58 . BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现＜ESC＞信息。非设置中断测试。

59 . 已清除＜ESC＞信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。.

5A . . 显示按"F2"键进行设置。

5B . . 测试基本内存地址。

5C . . 测试640K基本内存。

60 设置硬盘引导扇区保护功能。通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。测试扩展内存。

61 显示系统配置表。存储器检验结束；即将进行DMA＃1基本寄存器的测试。.

62 开始用中断19H进行系统引导。通过DMA＃1基本寄存器的测试；即将进行DMA＃2寄存器的测试。测试扩展内存地址线。

63 . 通过DMA＃2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。.

64 . BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。.

65 . BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。.

66 . DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始***。 Cache注册表进行优化配置。

67 . 8259初始***已结束；即将开始键盘测试。.

68 . . 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。

6A . . 测试并显示外部Cache值。

6C . . 显示被屏蔽内容。

6E . . 显示附属配置信息。

70 . . 检测到的错误代码送到屏幕显示。

72 . . 检测配置有否错误。

74 . . 测试实时时钟。

76 . . 扫查键盘错误。

7A . . 锁键盘。

7C . . 设置硬件中断矢量。

7E . . 测试有否安装数学处理器。

80 . 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。关闭可编程输入／输出设备。

81 . 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。.

82 . 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始***。检测和安装固定RS232接口（串口）。

83 . 已写入命令字节，已完成全局数据的初始***；即将检查有没有键锁住。.

84 . 已检查有没有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。检测和安装固定并行口。

85 . 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。 .

86 . 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。重新打开可编程I／O设备和检测固定I／O是否有冲突。

87 . 完成安排前的编程；将进行CMOS安排的编程。.

88 . 从CMOS安排程序复原清除屏幕；即将进行后面的编程。初始化BIOS数据区。

89 . 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。.

8A . 显示头一个屏幕信息。进行扩展BIOS数据区初始化。

8B . 显示了信息：即将屏蔽主要和BIOS。.

8C . 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。进行软驱控制器初始化。

8D . 已经安排任选项编程，接着检查滑了鼠和进行初始***。.

8E . 检测了滑鼠以及完成初始***；即将把硬、软磁盘复位。.

8F . 软磁盘已检查，该磁碟将作初始***，随后配备软磁碟。.

90 . 软磁碟配置结束；将测试硬磁碟的存在。硬盘控制器进行初始化。

91 . 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。局部总线硬盘控制器初始化。

92 . 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。跳转到用户路径2。

93 . BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。 .

94 . BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。关闭A－20地址线。

95 . 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。.

96 . 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始***。 "ES段"注册表清除。

. C800：0任选ROM控制之前的任何初始***结束，接着进行任选ROM的检查及控制。.

98 . 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。查找ROM选择。

99 . 任选ROM测试之后所需的任何初始***结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 .

9A . 调定计时器和打印机基本地址后的返回***作；即调定RS－232基本地址。屏蔽ROM选择。

9B . 在RS－232基本地址之后返回；即将进行协处理器测试之初始***。.

9C . 协处理器测试之前所需初始***结束；接着使协处理器作初始***。建立电源节能管理。

9D . 协处理器作好初始***，即将进行协处理器测试之后的任何初始***。.

9E . 完成协处理器之后的初始***，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。开放硬件中断。

9F . 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。.

A0 . 发出键盘识别命令；即将使键盘识别标志复原。设置时间和日期。

A1 . 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。.

A2 . 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。检查键盘锁。

A3 . 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。.

A4 . 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。键盘重复输入速率的初始化。

A5 . 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。.

A6 . 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。.

A7 . 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选的ROM在E000：0之所需的任何初始***。.

A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始***结束，接着将控制E000：0之后所需的任何初始***。清除"F2"键提示。

A9 . 从控制E000：0 ROM返回，即将进行控制E000：0任选ROM之后所需的任何初始***。.

AA . 在E000：0控制任选ROM之后的初始***结束；即将显示系统的配置。扫描"F2"键打击。

AC . . ***设置.

AE . . 清除通电自检标志。

B0 . . 检查非关键性错误。

B2 . . 通电自检完成*********作系统引导。

B4 . . 蜂鸣器响一声。

B6 . . 检测密码设置（可选）。

B8 . . 清除全部描述表。

BC . . 清除校验检查值。

BE 程序缺省值***控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。 . 清除屏幕（可选）。

BF 测试CMOS建立值。 . 检测，提示做资料备份。

C0 初始化高速缓存。 . 用中断19试引导。

C1 内存自检。 . 查找引导扇区中的"55""AA"标记。

C3 第一个256K内存测试。 . .

C5 从ROM内复制BIOS进行快速自检。 . .

C6 高速缓存自检。 . .

CA 检测Micronies超速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始***。 . .

CC 关断不可屏蔽中断处理器。 . .

EE 处理器意料不到的例外情况。 . .

FF 给予INI19引导装入程序的控制，主板OK。

1.板材绿色、红字黑数码管或黄字灰数码管；

2.两位代码显示；

3.PCI ISA功能测试口；

4.台式机专用新一代与准确王系列诊断卡的特点

1.无须用户装软件；

2.除了可测电脑故障外，还能实时监视CPU是否运行指令，助您***排除死机及最令人头疼的"时好时坏"故障，可选购***动监视或自动监视或无监视功能的相关型号；

3.彻底杜绝"起始码"；

4.无论是在上电期间或在使用时（如：上网或玩游戏死机，或打字死机等所有使用中死机时）若CPU停止运行指令，诊断卡显示"no"；

5.兼容性能前所未有，（精英SIS671主板照样可测，这类主板非常先进，估计市场上会有越来越多类似的主板，但传统诊断卡（不论2位、4位等）都不能够测试，本厂新一代与准确王系列诊断卡和***性测试与故障诊断2合1卡照测不误；

6.***作特简单，有多种外语说明书可选（暂只提供中英文，其他版本待后续***）；

7.不会走到"26"就停下来；

8.不用看指示灯新一代与准确王诊断卡显示"no"即知CPU不工作，这对维修电脑必须首要知道CPU是否工作具有重大意义；

9.准确王系列诊断卡比新一代诊断卡更为先进，它可看清全球所有传统诊断卡（***新一代诊断卡）的错码、漏码和多码情况，在当前所有的诊断卡中，它是最准确的，可以当做诊断卡的生产工具。

10.用大规模IC，结构紧凑，***可靠；

11.支持80h,84h,300h端口。

webrtc aecm和aec的区别

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

00 已显示系统的配置；即将控制INT19引导装入。

01 处理器测试1，处理器状态核实，如果测试失败，循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始，非屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失灵。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用非屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

03 清除8042键盘控制器，发出TEST-KBRD命令（AAH）。通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。

04 使8042键盘控制器复位，核实TESKBRD。键盘控制器较复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位/通电；即将启动ROM。 DMA初始准备正在进行或者失灵。

06 使电路片作初始准备，停用，奇偶性，DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。

08 使CMOS计时器作初始准备，正常地更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。

0A 使接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254芯片的DMA通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。

0C 测试8054通道1。键盘控制器引脚23。24已屏蔽/解锁；已发出NOP命令。第一个64KRAM的地址线故障。

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、通道测试，如果失败，则鸣喇叭。已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。第一个64K RAM的奇偶性失灵。

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS状态寄存器读/写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。

第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。第一个64K RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。第一个64K RAM第2位在故障。

13 测试8741键盘控制器接口。显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64K RAM第3位故障。

14 测试存储器更新触发电路。电路片初始化/存储器自动检测结束；8254计时器测试即将开始。第一个64K RAM第4位故障。

15 测试开头64K的系统存储器。第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64K RAM第5位故障。

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

16 建立8259所用的中断矢量表。第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64K RAM第6位故障。

17 调准输入/输出工作，若装有BIOS则启用。第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64K RAM第7位故障。

18 测试存储器，如果安装选用的BIOS通过本项测试，则可绕过。第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。第一个64K RAM第8位故障。

19 测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。已开始更新存储器。第一个64K RAM第9位故障。

1A 测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通/断时间。第一个64K RAM第10位故障。

1B 测试CMOS电池电平。完成存储器更新时间30微秒测试：即将开始基本的64K存储器测试。第一个64K RAM第11位故障。

1C 测试CMOS检查总和。第一个64K RAM第12位故障。

1D 调定CMOS的配置。第一个64 K RAM第13位故障。

1E 测定系统存储器的大小，并且把字和CMOS值比较。第一个64K RAM第14位故障。

1F 测试64K存储器至最高640K。第一个64K RAM第15位故障。

20 测量固定的8259中断位。开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。

21 维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入/输出通道的检查）。通过地址线测试；即将触发奇偶性。主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22 测试8259的中断功能。结束触发奇偶性；将开始串行数据读/写测试。主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

23 测试保护方式：虚拟方式和页面方式。基本的64K串行数据读/写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。从属中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

24 测定1Mb以上的扩展存储器。矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。设置ES段地址寄存器注册表或内存高端。

25 测试除头一个64K之后的所有存储器。完成中断矢量初始准备；将为旋转式继续开始读出8042的输入/输出端口。装入中断矢量正在进行或失灵。

26 测试保护方式的例外情况。读写8042的输入/输出端口；即将为旋转式继续开始使全局数据作初始准备。开启A20地址线使之参入寻址。

27 确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。键盘控制器测试正在进行或失灵。

28 确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。 CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。

29 已调定单色方式，即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A 使键盘控制器作初始准备。已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。置空64K基本内存。

2B 使磁碟驱动器和控制器作初始准备。触发奇偶性结束；即将控制任选的ROM检查前所需的任何调节。屏幕存储器测试正在进行或者失灵。

2C 检查串行端口，并使之作初始准备。完成ROM控制之前的处理；即将查看任选的ROM并加以控制。屏幕初始准备正在进行或者失灵。

代码 Award BIOS AMI BIOS Phoenix BIOS和Tandy 3000 BIOS

2D 检测并行端口，并使之作初始准备。已完成任选的ROM控制，即将进行ROM回复控制之后任何其他处理品的控制。屏幕回扫测试正在进行或失灵。

2E 使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。从ROM控制之后的处理复原；如果没发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。检查ROM正在进行。

2F 检测数学协处理器，并使之作初始准备。没发现EGA/VGA；即将开始显示器存储器读/写测试。

30 建立基本内存和扩展内存。通过显示器存储读/写测试；即将进行扫描检查。认为屏幕是可以工作的。

31 检测从C800：0至EFFF：0的选用ROM，并使之作初始准备。显示器存储器读/写测试或扫描失败，即将进行另一种显示器存储器读/写测试。单色监视器是可以工作的。

32 对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。通过另一种显示器存储器读/写测试；即将进行另一种显示器扫描检查。彩色监视器（40列）是可以工作的。

33 显示器检查结束；将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的类型。彩色监视器（80列）是可以工作的。

34 已检验显示适配器；接着将调定显示方式。计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。

35 完成调定显示方式；即将检查BIOS ROM的数据区。停机测试正在进行或失灵。

36 已检查BIOS ROM数据区；即将调定通电信息的游标。门电路中A-20失灵。

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37 识别通电信息的游标调定已完成；即将显示通电信息。保护方式中的意外中断。

38 完成显示通电信息；即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFh

39 已读出保存游标位置，即将显示引用信息串。

3A 引用信息串显示结束；即将显示发现<ESC>信息。间隔计时器通道2测试或失灵。

3B 用OPTI电路片（只是486）使超高速缓冲存储器作初始准备。已显示发现<ESC>信息；虚拟方式，存储器测试即将开始。按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。

3C 建立允许进入CMOS设置的标志。串行端口测试正在进行或失灵。

3D 初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。并行端口测试正在进行或失灵。

3E 尝试打开L2高速缓存数学处理器测试正进行或失灵。

40 已开始准备虚拟方式的测试；即将从存储器来检验。调整CPU速度，使之与时钟精确匹配。

41 中断已打开，将初始化数据以便于0：0检测内存变换（中断控制器或内存不良）。从存储器检验之后复原；即将准备描述符表。系统插件板选择失灵。

42 显示窗口进入SETUP。描述符表已准备好；即将进行虚拟方式作存储器测试。扩展CMOS RAM故障。

43 若是即插即用BIOS，则串口，并口初始化。进入虚拟方式；即将为诊断方式实现中断。

44 已实现中断（如已接通诊断开关；即将使数据作初始准备以检查存储器在0：0返转 BIOS中断进行初始化。

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45 初始化数学处理器。数据已作初始准备；即将检查存储器在0：0返转以及找出系统存储器的规模。

46 测试存储器已返回；存储器大小计算完毕，即将写入页面来测试存储器。检查只读存储器ROM版本。

47 即将在扩展的存储器试写页面；即将基本640K存储器写入页面。

48 已将基本存储器写入页面；即将确定1Mb以上的存储器。检查，CMOS重新配置。

49 找出1Mb以下的存储器并检验；即将确定1Mb以上的存储器。

4A 找出1Mb以上的存储器并检验；即将检查BIOS ROM的数据区进行的初始化。

4B BIOS ROM数据区的检验结束，即将检查<ESC>和为软复位清除1Mb以上的存储器

4C 清除1Mb以上的存储器（软复位）即将清除1Mb以上的存储器屏蔽BIOS ROM。

4D 已清除1Mb以上的存储器（软复位）；将保存存储器的大小。

4E 若检测到有错误，在显示器上显示错误信息，并等待客户按<F1>键继续。开始存储器的测试：（无软复位）；即将显示第一个64K存储器的测试。显示版权信息。

4F 读写软、硬盘数据，进行DOS引导。开始显示存储器的大小，正在测试存储器将使之更新；将进行串行和随机的存储器测试。

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50 将当前BIOS临时区内的CMOS值存到CMOS中。完成1Mb以上的存储器测试；即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。将CPU类型和速度送到屏幕。

51 测试1Mb以上的存储器。

52 所有ISA只读存储器ROM进行初始化，最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。已完成1Mb以上的存储器测试；即将准备回到实址方式。进入键盘检测。

53 如果不是即插即用BIOS，则初始化串口、并口和设置时钟值。保存CPU寄存器和存储器的大小，将进入实址方式。

54 成功地开启实址方式；即将复原准备停机时保存的寄存器。扫描“打击键”。

55 寄存器已复原，将停用门电路A-20的地址线。

56 成功地停用A-20的地址线；即将检查BIOS ROM数据区。键盘测试结束。

57 BIOS ROM的数据区检查了一半；继续进行。

58 BIOS ROM的数据区检查结束；将清除发现<ESC>信息。非设置中断测试。

59 已清<ESC>信息；信息已显示；即将开始DMA和中断控制器的测试。

5A 显示按“F2”键进行设置。

5C 测试640K基本内存。

5B 测试基本内存地址线。

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60 设置硬盘引导扇区保护功能。通过DMA页面寄存器的测试；即将检验存储器。测试扩展内存。

61 显示系统配置表 ,存储器检验结束；即将进行DMA#1基本寄存器的测试。

62 开始用中断19H进行系统引导。通过DMA#1基本寄存器的测试；即将进行DMA#2寄存器的测试。测试扩展内存地址线。

63 通过DMA#2基本寄存器的测试；即将检查BIOS ROM数据区。

64 BIOS ROM数据区检查了一半，继续进行。

65 BIOS ROM数据区检查结束；将把DMA装置1和2编程。 Cache注册表进行优化配置。

66 DMA装置1和2编程结束；即将使用59号中断控制器作初始准备。

67 8259初始准备已结束；即将开始键盘测试。

68 使外部Cache和CPU内部Cache都工作。

6A 测试显示外部Cache值。

6C 显示被屏蔽内容。

6E 显示附属配置信息。

70 检测到的错误代码送到屏幕显示。

72 检测配置有否错误。

74 测试实时时钟。

76 扫查键盘错误。

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7A 锁键盘。

7C 设置硬件中断矢量。

7E 测试有否安装数学处理器。

80 键盘测试开始，正在清除和检查有没有键卡住，即将使键盘复原。关闭可编程输入/输出设备。

81 找出键盘复原的错误卡住的键；即将发出键盘控制端口的测试命令。

82 键盘控制器接口测试结束，即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。检测和安装固定RS232接口（串口）。

83 已写入命令字节，已完成全局数据的初始准备；即将检查有没有键锁住。

84 已检查是否有锁住的键，即将检查存储器是否与CMOS失配。检测和安装固定并行口。

85 已检查存储器的大小；即将显示软错误和口令或旁通安排。

86 已检查口令；即将进行旁通安排前的编程。重新打开可编程I/O设备和检测固定I/O是否有冲突。

87 完成安排前的编程，将进行CMOS安排的编程。

88 从CMOS安排程序复原清除屏幕，即将进行后面的编程。初始化BIOS数据区。

89 完成安排后的编程；即将显示通电屏幕信息。

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8A 显示头一个屏幕信息。进行扩展BIOS数据区初始化。

8B 显示了信息，即将屏蔽主要和BIOS。

8C 成功地屏蔽主要和BIOS，将开始CMOS后的安排任选项的编程。进行软驱控制器初始化。

8D 已经安排任选项编程，接着检查滑鼠和进行初始准备。

8E 检查了滑鼠以及完成初始准备；即将把硬、软磁盘复位。

8F 软磁盘已检查，该原磁碟将作初始准备，随后配备软磁碟。

90 软磁碟配置结束，将测试硬磁碟的存在。硬盘控制器进行初始化。

91 硬磁碟存在测试结束；随后配置硬磁碟。局部总线硬盘控制器初始化。

92 硬磁碟配置完成；即将检查BIOS ROM的数据区。跳转到用户路径2。

93 BIOS ROM的数据区已检查一半；继续进行。

94 BIOS ROM的数据区检查完毕，即调定基本和扩展存储器的大小。关闭A20地址线。

95 因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小；即将检验显示存储器。

96 检验显示存储器后复原；即将进行C800：0任选ROM控制之前的初始准备。 “ES段”注册表清除。

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C800:0任选ROM控制之前的任何初始准备结束，接着进行任选ROM的检查及控制。

98 任选ROM的控制完成；即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。查找ROM选择。

99 任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束；即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。

9A 调定计时器和打印基本地址后的返回操作；即将调定RS-232基本地址。屏蔽ROM选择。

9B 在RS-232基本地址之后返回，即将进行协处理器测试之初始准备。

9C 协处理器测试之前所需初始准备结束；接着使协处理器作初始准备。建立电源节能管理。

9D 协处理器作好初始准备，即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。

9E 完成协处理器之后的初始准备，将检查扩展键盘，键盘识别符，以及数字锁定。开放硬件中断。

9F 已检查扩展键盘，调定识别标志，数字锁接通或断开，将发出键盘识别命令。

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A0 发出键盘识别命令：即将使键盘识别标志复原。设置时间和日期。

A1 键盘识别标志复原；接着进行高速缓冲存储器的测试。

A2 高速缓冲存储器测试结束；即将显示任何软错误。检查键盘锁。

A3 软错误显示完毕；即将调定键盘打击的速率。

A4 调好键盘的打击速率，即将制订存储器的等待状态。键盘重复输入速率的初始化。

A5 存储器等候状态制定完毕；接着将清除屏幕。

A6 屏幕已清除；即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。

A7 已启用不可屏蔽中断和奇偶性；即将进行控制任选ROM在E000:0之所需的任何初始准备。

A8 控制ROM在E000:0之前的初始准备结束，接着将控制E000:0之所需的任何初始准备。

清除“F2”键提示。

A9 从控制E000:0ROM返回，将进行E000:0可选ROM控制前的初始化。

AA 在E000:0控制任选ROM之后的初始准备结束；即将显示系统的配置。扫描“F2”键打击。

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AC 进入设置。

AE 清除通电自检标志。

BO 检查非关键性错误。

B2 通电自检完成准备进入操作系统引导。

B4 蜂鸣器响一声。

B6 检测密码设置（可选）。

B8 清除全部描述表。

BC 清除校验检查值。

BE 程序缺省值进入控制芯片，符合可调制二进制缺省值表。清除屏幕（可选）。

BF 测试CMOS建立值。检测，提示做资料备份。

C0 初始化高速缓存。用中断19试引导。

C1 内存自检。查找引导扇区中的“55、AA”标记。

C3 第一个256K内存测试。

C5 从ROM内存复制BIOS进行快速自检。

C6 高速缓存自检。

CA 检测Micronies超高速缓冲存储器（如果存在），并使之作初始准备。

CC 关断不可屏蔽中断处理器。

EE 处理器意料不到的例外情况。

FF 给予INT19引导装入程序的控制，主板OK。

绘图显卡和游戏显卡区别？

在WebRTC中，ACM（自适应回声控制模块）和AECD（自适应回声消除和噪声抑制）是两种常见的回声消除技术。它们都是为了解决通话中的回声问题，但它们在实现方式和功能上有一些区别。

首先，让我们了解一下ACM。ACM是一种基于自适应滤波器的回声消除技术，它通过估计回声路径的冲激响应，并构建一个反向滤波器来消除回声。ACM的主要优点是实现简单，对硬件要求较低。然而，ACM对于非线性回声的消除效果可能不太理想，并且对环境噪声的抑制能力也较弱。

相比之下，AECD是一种更先进的回声消除技术，它结合了自适应滤波器和非线性处理算法。AECD不仅可以消除线性回声，还可以消除非线性回声，如扬声器到麦克风的耦合效应。此外，AECD通常还包含噪声抑制功能，可以在消除回声的同时降低环境噪声，提高语音通话质量。

那么，为什么我们在一些场景下可能更倾向于使用AECD而不是ACM呢？这主要有以下几个原因：

更好的回声消除效果：AECD能够更好地处理非线性回声，提供更彻底的回声消除效果。这对于某些具有较强非线性回声的场景特别有用，如使用手机扬声器进行通话。

更强的噪声抑制能力：AECD通常包含噪声抑制功能，可以在消除回声的同时降低环境噪声。这使得在嘈杂环境中通话时，对方可以更清晰地听到你的声音。

更好的用户体验：通过提供更好的回声消除和噪声抑制效果，AECD可以显著提高语音通话的质量，为用户提供更加清晰、自然的通话体验。

然而，值得注意的是，AECD相对于ACM也有一些额外的开销。由于AECD需要更复杂的算法和更多的计算来实现，因此它可能对硬件的要求更高。此外，AECD的实现难度也相对较大，需要更多的开发和调试工作。

综上所述，在WebRTC中，ACM和AECD都是常用的回声消除技术，但它们在实现方式和功能上有一些区别。根据实际需求和场景选择合适的回声消除技术是非常重要的。对于需要更好的回声消除效果、噪声抑制能力和用户体验的场景，AECD可能是一个更好的选择。然而，对于对硬件要求较高或开发难度较大的场景，ACM可能是一个更合适的选择。无论选择哪种技术，都需要进行充分的测试和优化，以确保语音通话的质量和稳定性。

主板诊断卡代码！

游戏显卡和专业图形显卡主要是以下几点不同之处：

1、硬件设计的侧重不同

通常来说，游戏显卡虽然也可以很好地支持各种OpenGL和Direct3D游戏，但是更多地专注于游戏中需要的功能，对于在游戏中明显不会用到的那些功能如线框模式的抗混淆（反锯齿）、双面光照、3D动态剖切（3D Windows Clipping）等功能一般是不会在硬件中予以支持的。而专业图形卡则要对各种专业软件所涉及到的功能在硬件上予以支持。

2、游戏显卡和专业图形显卡在驱动程序不同

对于游戏显卡来说，在驱动程序中只需要对游戏中常用到的部分OpenGL函数能够提供很好支持就可以了，而专业图形卡由于面向范围广泛的专业应用软件，因此它必须要能够对所有OpenGL函数都予以支持。正是这些原因，在游戏中性能很好的游戏卡在运行专业软件时经常会出现性能剧烈下降的现象。

通过以上，绿色箭头位置为正确的贴图，而红色箭头位置出现了贴图错误，越复杂的图形出现错误的概率就越高。

使用MAYA、3DS MAX、SOLIDWORKS等这些软件时，用专业显卡打开复杂的场景进行编辑修改时能以实时的速度提供预览，而不必冗长的等待，这是普通游戏显卡无法做得到的。

3、专业显卡的驱动程序不仅对OpenGL的所有函数进行优化，同时针对各个不同的应用程序提供专门优化。

用游戏显卡来运行专业软件的时候经常会出现各种奇怪的兼容性问题，如显示错乱（如运行Inventor、Alias等软件）、性能突然下降（如运行SolidWorks打开多个3D窗口时）以至于死机（如在SolidWorks中编辑复杂模型时，偶尔会弹出个错误信息对话框，结果画了半天忘记存盘，那么就彻底懵了）等问题。

而用专业显卡兼容性好、速度快、没有锯齿、特效漂亮。在3D创作流程有两个基本环节：即时操作和渲染。一个超过2000万多边形、大量使用PE、FUR、LOOK AT、粒子、置换、CLOTH、流体、实时SHADER的网格全开场景用几千元的GTX980一样卡到不行，但是用QUADRO FX上就能获得很流畅的操作。

扩展资料：

显卡分类

1、核芯显卡

核芯显卡是Intel产品新一代图形处理核心，和以往的显卡设计不同，Intel凭借其在处理器制程上的先进工艺以及新的架构设计，将图形核心与处理核心整合在同一块基板上，构成一颗完整的处理器。智能处理器架构这种设计上的整合大大缩减了处理核心、图形核心、内存及内存控制器间的数据周转时间，有效提升处理效能并大幅降低芯片组整体功耗，有助于缩小了核心组件的尺寸，为笔记本、一体机等产品的设计提供了更大选择空间。

需要注意的是，核芯显卡和传统意义上的集成显卡并不相同。笔记本平台用的图形解决方案主要有“独立”和“集成”两种，前者拥有单独的图形核心和独立的显存，能够满足复杂庞大的图形处理需求，并提供高效的编码应用；集成显卡则将图形核心以单独芯片的方式集成在主板上，并且动态共享部分系统内存作为显存使用，因此能够提供简单的图形处理能力，以及较为流畅的编码应用。相对于前两者，核芯显卡则将图形核心整合在处理器当中，进一步加强了图形处理的效率，并把集成显卡中的“处理器+南桥+北桥（图形核心+内存控制+显示输出）”三芯片解决方案精简为“处理器（处理核心+图形核心+内存控制）+主板芯片（显示输出）”的双芯片模式，有效降低了核心组件的整体功耗，更利于延长笔记本的续航时间。

核芯显卡的优点：低功耗是核芯显卡的最主要优势，由于新的精简架构及整合设计，核芯显卡对整体能耗的控制更加优异，高效的处理性能大幅缩短了运算时间，进一步缩减了系统平台的能耗。高性能也是它的主要优势：核芯显卡拥有诸多优势技术，可以带来充足的图形处理能力，相较前一代产品其性能的进步十分明显。核芯显卡可支持DX10/DX11、SM4.0、OpenGL2.0、以及全Full HD MPEG2/H.264/VC-1格式解码等技术，即将加入的性能动态调节更可大幅提升核芯显卡的处理能力，令其完全满足于普通用户的需求。

核芯显卡的缺点：配置核芯显卡的CPU通常价格不高，同时低端核显难以胜任大型游戏。

2、集成显卡

集成显卡是将显示芯片、显存及其相关电路都集成在主板上，与其融为一体的元件；集成显卡的显示芯片有单独的，但大部分都集成在主板的北桥芯片中；一些主板集成的显卡也在主板上单独安装了显存，但其容量较小，集成显卡的显示效果与处理性能相对较弱，不能对显卡进行硬件升级，但可以通过CMOS调节频率或刷入新BIOS文件实现软件升级来挖掘显示芯片的潜能。

集成显卡的优点：是功耗低、发热量小、部分集成显卡的性能已经可以媲美入门级的独立显卡，所以不用花费额外的资金购买独立显卡。

集成显卡的缺点：性能相对略低，且固化在主板或CPU上，本身无法更换，如果必须换，就只能换主板。

3、独立显卡

独立显卡是指将显示芯片、显存及其相关电路单独做在一块电路板上，自成一体而作为一块独立的板卡存在，它需占用主板的扩展插槽（ISA、PCI、P或PCI-E)。

独立显卡的优点：单独安装有显存，一般不占用系统内存，在技术上也较集成显卡先进得多，但性能肯定不差于集成显卡，容易进行显卡的硬件升级。

独立显卡的缺点：系统功耗有所加大，发热量也较大，需额外花费购买显卡的资金，同时（特别是对笔记本电脑）占用更多空间。

由于显卡性能的不同对于显卡要求也不一样，独立显卡实际分为两类，一类专门为游戏设计的显卡，一类则是用于绘图和3D渲染的专业显卡。

参考资料;中关村在线

一般主板检测卡代码的含义？

主板诊断卡代码详解(对照表),特殊代码"00"和"ff"及其它起始码有三种情况出现：

①已由一系列其它代码之后再出现："00"或"ff"，则主板ok。

②如果将cmos中设置无错误，则不严重的故障不会影响bios自检的继续，而最终出现"00"或"ff"。

③一开机就出现"00"或"ff"或其它起始代码并且不变化则为主板没有运行起来。

2、本表是按代码值从小到大排序，卡中出码顺序不定。

3、未定义的代码表中未列出。

4、对于不同bios（常用ami、award、phoenix）用同一代码代表的意义不同，因此应弄清您所检测的电脑是属于哪一种类型的bios，您可查阅您的电脑使用手册，或从主板上的bios芯片上直接查看，也可以在启动屏幕时直接看到。

5、有少数主板的pci槽只有一部分代码出现，但isa槽有完整自检代码输出。且目前已发现有极个别原装机主板的isa槽无代码输出，而pci槽则有完整代码输出，故建议您在查看代码不成功时，将本双槽卡换到另一种插槽试一下。另外，同一块主板的不同pci槽，有的槽有完整代码送出，如dell810主板只有靠近cpu的一个pci槽有完整代码显示，一直变化到"00"或"ff"，而其它pci槽走到"38"后则不继续变化。

6、复位信号所需时间isa与pci不一定同步，故有可能isa开始出代码，但pci的复位灯还不熄，故pci代码停要起始代码上。

代码对照表

00 . 已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。

02 确定诊断的类型（正常或者制造）。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。 CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03 清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。

04 使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。键盘控制器软复位／通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05 如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。已确定软复位／通电；即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。

06 使电路片作初始准备，停用、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07 处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。 .

08 使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。

0A 使接口作初始准备。发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B 测试8254通道0。写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

0C 测试8254通道1。键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。初始化输入／输出端口地址。

0F 测试扩展的CMOS。已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。 .

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。

11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。

12 测试DMA页面寄存器。停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。

13 测试8741键盘控制器接口。显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。